光器件要做哪些環(huán)境溫度可靠性測試： 1》高低溫存儲：
 

　　(1)一般有低溫存儲和高溫存儲。經大量試驗發(fā)現(xiàn)，有源器件在低溫下，不太可能失效，所以低溫存儲時間只有72小時，甚至可以不用做。而高溫存儲一般在85℃下存儲2000h，如果器件的蕞高工作溫度高于85℃，那么在器件蕞高工作溫度下存儲；
 

　　(2)器件存儲環(huán)境千差萬別，有些器件可能放在東北，零下幾十度；有些器件可能被運往中東，環(huán)境溫度五十多度，車內甚至可以到70多度。因此很有必要在發(fā)貨前，就驗證器件是否能抗的住這些嚴.酷溫度。由于只是運輸存儲，所以不帶電；
 

　　(3)相比有源器件，無源器件里面用的膠比較多，因此一般無源器件在-40℃低溫存儲1000h；
 

　　2》高低溫循環(huán)：
 

　　溫循的升降溫速率至少10℃/min，在85℃和-40℃這兩個溫度點，還要停留足夠長的時間讓器件達到環(huán)境溫度。對于室內應用的光模塊，溫循100次就OK，對于室外應用光模塊，需要溫循500次。對于有TEC控溫的模塊，溫循的時候，需要把TEC開著；
 

　　3》帶電溫度測試：
 

　　芯片/器件/模塊開足馬力，電流或者大功率條件下工作，這樣做是為了加速失效。對于室外應用，溫度設定在85℃，對于室內應用，溫度設定在70℃。對于芯片級可靠性，持續(xù)時間5000h；對于器件或模塊級可靠性，持續(xù)時間2000h。特別對于PD，溫度一般設定在175℃，時間2000h；
 

　　4》濕熱測試：
 

　　濕熱不一定是85℃/85%RH，也可以是其它溫度和濕度的組合(75℃/90%RH)，只是85℃/85%是蕞常用的濕熱條件。濕熱可以測試氣密性器件的氣密特性，也可以考驗非氣密器件的可靠性。GR-468上不分室內室外應用，推薦的85℃/85%RH時間是500h，而GR-1221推薦室外應用雙85可靠性要做到至少2000h。需要注意的是，這些標準推薦的時間只是一個參考，具體時間可以根據(jù)產品特點而選定，也可以和后面更嚴格的帶電雙85合并；
 

　　5》耐周期濕度可靠性：
 

　　(1)這項實驗針對非氣密封裝的器件，85℃/85%RH，持續(xù)1000小時或2000h(視具體產品和應用而定)。需要特別注意的是，并不是工作電流/出光功率越大越好，因為這樣會產生大量的熱，從而改變器件周圍的環(huán)境。對于激光器，工作電流保持在閾值電流1.2倍就行了；
 

　　(2)濕度和溫度同時變化條件下的可靠性實驗，有可能會產生水汽凝結或者結霜。這個實驗僅僅針對室外應用的器件和模塊。該實驗的溫濕度控制曲線如下圖，要做20個循環(huán)，一個循環(huán)下來要24小時；至少有一半的循環(huán)，蕞后一步要降到-10℃，停留不少于3h。
 

　　光器件：分為有源器件和無源器件光有源器件是光通信系統(tǒng)中需要外加能源驅動工作的可以將電信號轉換成光信號或將光信號轉換成電信號的光電子器件，是光傳輸系統(tǒng)的心臟。無源器件是不需要外加能源驅動工作的光電子器件。